前  言

  本標(biāo)準(zhǔn)等同采用電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-5《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽輻射》1975年版。

  通過使我國標(biāo)準(zhǔn)與標(biāo)準(zhǔn)等同，可以盡快適應(yīng)貿(mào)易的發(fā)展和經(jīng)濟(jì)、技術(shù)交流的需要。

  本標(biāo)準(zhǔn)代替了GB2423.24-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽輻射試驗(yàn)方法》。

  本標(biāo)準(zhǔn)于1981年發(fā)布，1995年8月*次修訂。

  自本標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施之日起，原中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB2423.24-81 同時(shí)作廢。

  本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國電子工業(yè)提出。

  本標(biāo)準(zhǔn)由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。

  本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位：電子工業(yè)部第五研究所。

  本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：傅文茹、黃文忠、周心才、謝建華、黃玉洲。